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GBT管的柵極通過一層氧化膜與發(fā)射極實(shí)現(xiàn)電隔離由于此氧化膜很薄，IGBT管的UGE 的耐壓值為 20V,在IGBT管加超出耐壓值的電壓時(shí)，會導(dǎo)致?lián)p壞的危險(xiǎn) 此外，在柵極發(fā)射極間開路時(shí)，若在集電極與發(fā)射極間加上電壓，則隨著集電極電位的變化，由于集電極有漏電流流過，柵極電位升高，集電極則有電流流過 這時(shí)，如果集電極與發(fā)射極間存在高電壓，則有可能使IGBT管發(fā)熱乃至損壞在應(yīng)用中，有時(shí)雖然保證了柵極驅(qū)動電壓沒有超過柵極額定電壓，但柵極連線的寄生電感和柵極與集電極間的電容耦合，也會產(chǎn)生使氧化層損壞的振蕩電壓為此，通常采用雙絞線來傳送驅(qū)動信號，以減少寄生電感 在柵極連線中串聯(lián)小電阻也可以抑制振蕩電壓，如果柵極回路不合適或者柵極回路*不能工作時(shí)（柵極處于開路狀態(tài)），若在主回路上加上電壓，則IGBT管就會損壞 為防止這類損壞情況發(fā)生，應(yīng)在柵極一發(fā)射極之間接一只10千歐左右的電阻。此外，由于IGBT管為MOS結(jié)構(gòu)，對于靜電就要十分注意 因此，請注意下面幾點(diǎn)：

　?。?）在使用模塊時(shí)，手持分裝件時(shí)，請勿觸摸驅(qū)動端子部分當(dāng)必須要觸摸模塊端子時(shí)，要先將人體或衣服上的靜電放電后，再觸摸；

　?。?）在用導(dǎo)電材料連接IGBT管的驅(qū)動端子時(shí)，在配線未接好之前請先不要接上模塊；

　?。?）盡量在底板良好接地的情況下操作 如焊接時(shí)，電烙鐵要可靠接地在安裝或更換IGBT管時(shí)，應(yīng)十分重視IGBT管與散熱片的接觸面狀態(tài)和擰緊程度，為了減少接觸熱阻，在散熱器與IGBT管間涂抹導(dǎo)熱硅脂，一般散熱片底部安裝有散熱風(fēng)扇，當(dāng)散熱風(fēng)扇損壞中散熱片散熱不良時(shí)將導(dǎo)致IGBT管發(fā)熱，從而發(fā)生故障，因此對散熱風(fēng)扇應(yīng)定期進(jìn)行檢查，一般在散熱片上靠近IGBT管的地方安裝有溫度感應(yīng)器，當(dāng)溫度過高時(shí)將報(bào)警或停止IGBT管工作。

　　igbt靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

　　可測試IGBT參數(shù)包括ICES、BVCES、IGESF、VGETH、VGEON、VCESAT、ICON、VF、

　　GFS、rCE等全直流參數(shù)，所有小電流指標(biāo)保證1%重復(fù)測試精度，大電流指標(biāo)保證2%以內(nèi)重復(fù)測試精度。

　　主極電流可提供400A 500A 800A 1250A大電流測試選項(xiàng)

　　BR3500測試系統(tǒng)是一項(xiàng)高速多用途半導(dǎo)體分立器件智能測試系統(tǒng)。它具有十分豐富的編程軟件和強(qiáng)大的測試能力?？烧鎸?shí)準(zhǔn)確測試達(dá)九大類二十七分類大、中、小功率的半導(dǎo)體分立器件。

　　一、可測試種類

　　1.二極管                           Diode

　　2.穩(wěn)壓（齊納）二極管               Zener

　　3.晶體管                            Transistor（NPN型/PNP型）

　　4.可控硅整流器（普通晶閘管）        SCR

　　5.雙向可控硅（雙向晶閘管）           TRIAC

　　6.MOS場效應(yīng)管                  Power MOSFET（N-溝/P-溝）

　　7.結(jié)型場效應(yīng)管               J-FET （N-溝/P-溝，耗盡型/增強(qiáng)型）

　　8. 三端穩(wěn)壓器              REGULATOR（正電壓/負(fù)電壓，固定/可變）

　　9.絕緣柵雙功率晶體管            IGBT（NPN型/PNP型）

　　10.光電耦合器                   OPTO-COUPLER（NPN型/PNP型）

　　11.光電邏輯器件                         OPTO-LOGIC

　　12.光電開關(guān)管                          OPTO-SWITCH

　　13.達(dá)林頓陣列

　　14.固態(tài)過壓保護(hù)器                      SSOVP

　　15.硅觸發(fā)開關(guān)                          STS

　　16.繼電器                              RELAY（A、B、C型）

　　17.金屬氧化物壓變電阻                   MOV

　　18.壓變電阻                            VARISTO

　　19.雙向觸發(fā)二極管                      DIAC

　　二、技術(shù)參數(shù)及可實(shí)現(xiàn)目標(biāo)

　　主極電壓：1000V                 通過內(nèi)部設(shè)置可擴(kuò)展到：2000V

　　主極電流：50A                         加選件可擴(kuò)展到：400A/500A/1000A/1250A

　　控制極電壓：20V                     加大電流臺選件可擴(kuò)展到：80V

　　控制極電流：10A                    加大電流臺選件可擴(kuò)展到：40A

　　電壓分辨率：1mV

　　電流分辨率：100pA                 加小電流臺選件可擴(kuò)展到：1pA

1、如何避免米勒效應(yīng)?

　　IGBT操作時(shí)所面臨的問題之一是米勒效應(yīng)的寄生電容。這種效果是明顯的在0到15V類型的門極驅(qū)動器(單電源驅(qū)動器)。門集-電極之間的耦合，在于IGBT關(guān)斷期間,高dV/dt瞬態(tài)可誘導(dǎo)寄生IGBT道通(門集電壓尖峰)，這是潛在的危險(xiǎn)。

　　當(dāng)上半橋的IGBT打開操作，dVCE/dt電壓變化發(fā)生跨越下半橋的IGBT。電流會流過米勒的寄生電容，門極電阻和內(nèi)部門極驅(qū)動電阻。這將倒至門極電阻電壓的產(chǎn)生。如果這個(gè)電壓超過IGBT門極閾值的電壓，可能會導(dǎo)致寄生IGBT道通。

　　有兩種傳統(tǒng)解決方案。首先是添加門極和發(fā)射極之間的電容。第二個(gè)解決方法是使用負(fù)門極驅(qū)動。*個(gè)解決方案會造成效率損失。第二個(gè)解決方案所需的額外費(fèi)用為負(fù)電源電壓。

　　解決方案是通過縮短門極-發(fā)射極的路徑,通過使用一個(gè)額外的晶體管在于門極-發(fā)射極之間。達(dá)到一定的閾值后，晶體管將短路門極-發(fā)射極地區(qū)。這種技術(shù)被稱為有源米勒鉗位,提供在我們的ACPL-3xxJ產(chǎn)品。你可以參考Avago應(yīng)用筆記AN5314

　　2、故障保護(hù)功能有哪些?都是集成在隔離驅(qū)動器里嗎?

　　3種故障保護(hù)功能都集成到Avago的高集成柵極驅(qū)動器ACPL-33xJ里-UVLO(以避免VCC2電平不足夠時(shí)開啟IGBT)，DESAT(以保護(hù)IGBT過電流或短路)，和米勒鉗位(以防止寄生米勒電容造成的IGBT誤觸發(fā))

　　3、在哪些應(yīng)用場合需要考慮米勒效應(yīng)的影響?

　　IGBT操作時(shí)所面臨的問題之一是米勒效應(yīng)的寄生電容。這種效果是明顯的在0到15V類型的門極驅(qū)動器(單電源驅(qū)動器)。門集-電極之間的耦合，在于IGBT關(guān)斷期間,高dV/dt瞬態(tài)可誘導(dǎo)寄生IGBT道通(門集電壓尖峰)，這是潛在的危險(xiǎn)。

　　當(dāng)上半橋的IGBT打開操作，dVCE/dt電壓變化發(fā)生跨越下半橋的IGBT。電流會流過米勒的寄生電容，門極電阻和內(nèi)部門極驅(qū)動電阻。這將倒至門極電阻電壓的產(chǎn)生。如果這個(gè)電壓超過IGBT門極閾值的電壓，可能會導(dǎo)致寄生IGBT道通。